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    Microscopy顯微光學(xué)超導磁體系統

    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    Janis Microscopy顯微光學(xué)超導磁體系統被設計用于與ST-500型高穩定性顯微光學(xué)低溫恒溫器一起使用,實(shí)現在7 T磁場(chǎng)及3.5 K~420 K變溫環(huán)境中的顯微光學(xué)測量。

    產(chǎn)品型號:
    更新時(shí)間:2024-04-18
    廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
    訪(fǎng)問(wèn)量:561

    Janis Microscopy顯微光學(xué)超導磁體系統被設計用于與ST-500型高穩定性顯微光學(xué)低溫恒溫器一起使用,實(shí)現在7 T磁場(chǎng)及3.5 K~420 K變溫環(huán)境中的顯微光學(xué)測量。該系統配備用于樣品掃描和聚焦的X-Y-Z平移臺,可在低溫強磁場(chǎng)下的進(jìn)行顯微拉曼、熒光、磁光克爾等多種光譜測試。



    主要特征


    ?  7T垂直孔徑超導磁體

    ?  室溫孔內徑42毫米

    ?  超低振動(dòng)ST-500顯微鏡低溫恒溫器

    ?  溫度范圍:3.5~325K(420K可選

    ?  高精度XYZ三軸平臺

    ?  可測試直徑為16mm的樣品

    ?  低溫強磁場(chǎng)顯微拉曼、熒光、MOKE


    標準Microscopy主要參數


    樣品環(huán)境

    運行溫度

    磁場(chǎng)大小

    光學(xué)通道

    真空/超高真空

    3.5 K ~ 325 K
     (420 K 可選)

    0 ~ 7 T

    ?





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